SJ/T 11207-1999
Messung der magnetischen Eigenschaften von YIG-Einkristall-Magnetfilmen (Englische Version)

Standard-Nr.: SJ/T 11207-1999
Sprachen: Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum: 1999
Organisation: Professional Standard - Electron
Letzte Version: SJ/T 11207-1999

SJ/T 11207-1999 Veröffentlichungsverlauf

1999 SJ/T 11207-1999 Messung der magnetischen Eigenschaften von YIG-Einkristall-Magnetfilmen

Messung der magnetischen Eigenschaften von YIG-Einkristall-Magnetfilmen

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