NF EN IEC 60749-37:2022 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 37: Falltestverfahren auf Platinenebene unter Verwendung eines Beschleunigungsmessers
2022NF EN IEC 60749-37:2022 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 37: Falltestverfahren auf Platinenebene unter Verwendung eines Beschleunigungsmessers