IEC 60749-44:2016
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 44: Neutronenstrahlbestrahltes Einzelereigniseffekt-Prüfverfahren (SEE) für Halbleiterbauelemente

Standard-Nr.

IEC 60749-44:2016

Erscheinungsdatum

2016

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 60749-44:2016

IEC 60749-44:2016 Veröffentlichungsverlauf

• 2016 IEC 60749-44:2016 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 44: Neutronenstrahlbestrahltes Einzelereigniseffekt-Prüfverfahren (SEE) für Halbleiterbauelemente