ISO 21222:2020
Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmodule für nachgiebige Materialien unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops und der Zweipunkt-JKR-Methode

Standard-Nr.
ISO 21222:2020
Erscheinungsdatum
2020
Organisation
International Organization for Standardization (ISO)
Letzte Version
ISO 21222:2020

ISO 21222:2020 Normative Verweisungen

  • ISO 11775 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Cantilevers
  • ISO 18115-2 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden*2021-12-21 Aktualisieren

ISO 21222:2020 Veröffentlichungsverlauf

  • 2020 ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmodule für nachgiebige Materialien unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops und der Zweipunkt-JKR-Methode
Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmodule für nachgiebige Materialien unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops und der Zweipunkt-JKR-Methode



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