T/NXCL 017-2022
300 mm starke, mit Phosphor dotierte, einkristalline, polierte Czochralski-Siliziumwafer (Englische Version)

Standard-Nr.: T/NXCL 017-2022
Sprachen: Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum: 2022
Organisation: Group Standards of the People's Republic of China
Letzte Version: T/NXCL 017-2022

T/NXCL 017-2022 Veröffentlichungsverlauf

2022 T/NXCL 017-2022 300 mm starke, mit Phosphor dotierte, einkristalline, polierte Czochralski-Siliziumwafer

300 mm starke, mit Phosphor dotierte, einkristalline, polierte Czochralski-Siliziumwafer

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