2009SJ/T 11394-2009 Messmethoden für Halbleiter-Leuchtdioden
1983SJ 2355.4-1983 Methoden zur Messung der Sperrschichtkapazität lichtemittierender Geräte
SJ 2355.4-1983 Methoden zur Messung der Sperrschichtkapazität lichtemittierender Geräte ha sido cambiado a SJ/T 11394-2009 Messmethoden für Halbleiter-Leuchtdioden.