ISO 23729:2022
Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
- Standard-Nr.
- ISO 23729:2022
- Erscheinungsdatum
- 2022
- Organisation
- International Organization for Standardization (ISO)
- Letzte Version
- ISO 23729:2022
ISO 23729:2022 Normative Verweisungen
- ISO 11775 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Cantilevers
- ISO 11952 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
- ISO 18115-2 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
ISO 23729:2022 Veröffentlichungsverlauf
- 2022 ISO 23729:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
