IEEE Std 300-1988(R2006)
IEEE-Standardtestverfahren für Halbleiterdetektoren für geladene Teilchen

Standard-Nr.

IEEE Std 300-1988(R2006)

Erscheinungsdatum

1970

Organisation

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Letzte Version

IEEE Std 300-1988(R2006)

IEEE Std 300-1988(R2006) Veröffentlichungsverlauf

• 0000 IEEE Std 300-1988(R2006)
• 1988 IEEE Std 300-1988 IEEE-Standardtestverfahren für Halbleiterdetektoren für geladene Teilchen
• 1982 IEEE 300-1982 STANDARDTESTVERFAHREN FÜR HALBLEITER-DETEKTOREN FÜR GELADENE TEILCHEN
• 1970 IEEE 300-1969 USA-Standard und IEEE-Testverfahren für Halbleiter-Strahlungsdetektoren (für ionisierende Strahlung)