CNS 5545-1988
Umwelttestmethoden und Dauertestmethoden für diskrete Halbleiterbauelemente (Sperrvorspannungstest von Transistoren unter hoher Temperatur) (Englische Version)
- Standard-Nr.
- CNS 5545-1988
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 1988
- Organisation
- Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China
- Letzte Version
- CNS 5545-1988
CNS 5545-1988 Veröffentlichungsverlauf
- 1988 CNS 5545-1988 Umwelttestmethoden und Dauertestmethoden für diskrete Halbleiterbauelemente (Sperrvorspannungstest von Transistoren unter hoher Temperatur)
