CNS 7664-1987
Testmethode für elektrische Steckverbinder mit niedriger Frequenz (unter 3 MHz) (TP – 25 Probe Damage Test) (Englische Version)

Standard-Nr.

CNS 7664-1987

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

1987

Organisation

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

Letzte Version

CNS 7664-1987

CNS 7664-1987 Veröffentlichungsverlauf

• 1987 CNS 7664-1987 Testmethode für elektrische Steckverbinder mit niedriger Frequenz (unter 3 MHz) (TP – 25 Probe Damage Test)