UNE-EN 62047-3:2006
Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 3: Dünnfilm-Standardteststück für Zugversuche (IEC 62047-3:2006) (Von AENOR im Januar 2007 gebilligt.)
- Standard-Nr.
- UNE-EN 62047-3:2006
- Erscheinungsdatum
- 2007
- Organisation
- ES-UNE
- Letzte Version
- UNE-EN 62047-3:2006
UNE-EN 62047-3:2006 Veröffentlichungsverlauf
- 2007 UNE-EN 62047-3:2006 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 3: Dünnfilm-Standardteststück für Zugversuche (IEC 62047-3:2006) (Von AENOR im Januar 2007 gebilligt.)
