PN-EN IEC 60749-20-2021-06 E
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20: Beständigkeit von kunststoffummantelten SMDs gegenüber der kombinierten Wirkung von Feuchtigkeit und Löthitze (IEC 60749-20:2020)

Standard-Nr.
PN-EN IEC 60749-20-2021-06 E
Erscheinungsdatum
2021
Organisation
PL-PKN
ersetzt durch
PN-EN 60749-20-2010 E



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