BS EN 60749-30+A1:2006 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Vorkonditionierung nicht hermetischer oberflächenmontierter Geräte vor der Zuverlässigkeitsprüfung
2006BS EN 60749-30:2005+A1:2011 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Vorkonditionierung nicht hermetischer oberflächenmontierter Geräte vor der Zuverlässigkeitsprüfung
2006BS EN 60749-30:2005 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 30: Vorkonditionierung nicht hermetischer oberflächenmontierter Bauelemente vor der Zuverlässigkeitsprüfung