IEC 91/1082/CD:2013
IEC/TS 62326-17, Ed. 1: Leiterplatten – Teil 17: In Geräte eingebettete Substrate – TEG (Testelementgruppe)

Standard-Nr.
IEC 91/1082/CD:2013
Erscheinungsdatum
2013
Organisation
International Electrotechnical Commission (IEC)
Zustand
ersetzt durch
IEC 91/1144/DTS:2013



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