JEDEC JESD51-14-2010
Transiente Dual-Interface-Testmethode zur Messung des thermischen Widerstands zwischen Gehäuse und Gehäuse von Halbleiterbauelementen mit Wärmefluss über einen einzelnen Pfad

Standard-Nr.

JEDEC JESD51-14-2010

Erscheinungsdatum

2010

Organisation

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association