JIS X 6320-2:2009
Identifikationskarten – Karten mit integrierten Schaltkreisen – Teil 2: Karten mit Kontakten – Abmessungen und Lage der Kontakte

Standard-Nr.

JIS X 6320-2:2009

Erscheinungsdatum

2009

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS X 6320-2:2009

Ersetzen

JIS X 6303:2000

JIS X 6320-2:2009 Normative Verweisungen

• ISO/IEC 7816-10:1999 Identifikationskarten – Integrierte Schaltungskarten mit Kontakten – Teil 10: Elektronische Signale und Antwort auf Reset für synchrone Karten
• ISO/IEC 7816-12:2005 Identifikationskarten – Karten mit integrierten Schaltkreisen – Teil 12: Karten mit Kontakten – Elektrische USB-Schnittstelle und Betriebsverfahren
• JIS X 6301:2005 Ausweise – Physische Merkmale
• JIS X 6305-3:2002 Identifikationskarten – Prüfverfahren – Teil 3: Integrierte Schaltungskarten mit Kontakten und zugehörige Schnittstellengeräte
• JIS X 6320-3:2009 Identifikationskarten – Karten mit integrierten Schaltkreisen – Teil 3: Karten mit Kontakten – Elektrische Schnittstellen und Übertragungsprotokolle

JIS X 6320-2:2009 Veröffentlichungsverlauf

• 2009 JIS X 6320-1:2009 Identifikationskarten – Integrierte Schaltungskarten mit Kontakten – Teil 1: Physikalische Eigenschaften
• 2000 JIS X 6303:2000 Integrierte Schaltkreiskarten mit Kontakten – Physikalische Eigenschaften und Lage der Kontakte
• 1988 JIS X 6303:1988 Integrierte Schaltkreiskarten mit Kontakten – physikalische Eigenschaften und Lage der Kontakte