NF C96-022-18*NF EN 60749-18:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 18: Ionisierende Strahlung (Gesamtdosis).
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NF C96-022-18*NF EN 60749-18:2003
Standard-Nr.
NF C96-022-18*NF EN 60749-18:2003
Erscheinungsdatum
2003
Organisation
Association Francaise de Normalisation
Letzte Version
NF C96-022-18*NF EN 60749-18:2003
Ersetzen
NF C96-022:1999
NF C96-022-18*NF EN 60749-18:2003 Veröffentlichungsverlauf
2002
NF C96-022-9:2002
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 9: Dauerhaftigkeit der Markierung.
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NF C96-022:1999
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