DIN EN 60749-10:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 10: Mechanischer Schock (IEC 60749-10:2002); Deutsche Fassung EN 60749-10:2002
2003DIN EN 60749-3:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 60749-3:2002); Deutsche Fassung EN 60749-3:2002