JEDEC JESD51-10-2000
Testplatinen für thermische Messungen an bedrahteten Gehäusen mit Durchgangsbohrungen
Start
JEDEC JESD51-10-2000
Standard-Nr.
JEDEC JESD51-10-2000
Erscheinungsdatum
2000
Organisation
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
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