JEDEC JESD51-1-1995
Methode zur thermischen Messung integrierter Schaltkreise – elektrische Testmethode (einzelnes Halbleiterbauelement)
Start
JEDEC JESD51-1-1995
Standard-Nr.
JEDEC JESD51-1-1995
Erscheinungsdatum
1995
Organisation
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
© 2024 Alle Rechte vorbehalten.