JEDEC EIA-323-1966
Luftkonvektionsgekühlte Lebensdauertestumgebung für bleimontierte Halbleiterbauelemente
Start
JEDEC EIA-323-1966
Standard-Nr.
JEDEC EIA-323-1966
Erscheinungsdatum
1966
Organisation
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
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