JEDEC JESD35-2-1996
Prüfkriterien für die Prüfung dünner Dielektrika auf Waferebene, Anhang Nr. 2 zu JESD35

Standard-Nr.

JEDEC JESD35-2-1996

Erscheinungsdatum

1996

Organisation

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association