JEDEC JESD22-B111-2003
Falltestmethode auf Platinenebene für Komponenten für tragbare elektronische Produkte
Start
JEDEC JESD22-B111-2003
Standard-Nr.
JEDEC JESD22-B111-2003
Erscheinungsdatum
2003
Organisation
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
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