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BS EN IEC 62951-9. Halbleiterbauelemente. Flexible und dehnbare Halbleiterbauelemente. Teil 9. Leistungstestmethoden für Widerstandsspeicherzellen mit einem Transistor und einem Widerstand (1T1R).
Start
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Standard-Nr.
20/30423207 DC
Erscheinungsdatum
2020
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Letzte Version
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20/30423207 DC Veröffentlichungsverlauf
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