IEC 60749-28:2022 RLV
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene

Standard-Nr.

IEC 60749-28:2022 RLV

Erscheinungsdatum

2022

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 60749-28:2022 RLV

IEC 60749-28:2022 RLV Veröffentlichungsverlauf

• 0000 IEC 60749-28:2022 RLV
• 2017 IEC 60749-28:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene