KS C 5214-1981(2001)
ZUVERLÄSSIGKEIT GEWÄHRTE TTL, POSITIVE NAND-GATE, INTEGRIERTE SCHALTUNGEN

Standard-Nr.

KS C 5214-1981(2001)

Erscheinungsdatum

1981

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

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Letzte Version

KS C 5214-1981(2001)

KS C 5214-1981(2001) Veröffentlichungsverlauf

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