DIN EN 60749-4 E:2016-06 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)
2003DIN EN 60749-3:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 60749-3:2002); Deutsche Fassung EN 60749-3:2002