IEEE P1149.7/D7, October 2021
IEEE-Standardentwurf für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität

Standard-Nr.

IEEE P1149.7/D7, October 2021

Erscheinungsdatum

2021

Organisation

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)