KS X ISO 6342-2007(2022)
Mikrographik – Lochkarten – Methode zur Messung der Dicke des Aufbaubereichs

Standard-Nr.

KS X ISO 6342-2007(2022)

Erscheinungsdatum

2007

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Letzte Version

KS X ISO 6342-2007(2022)

KS X ISO 6342-2007(2022) Veröffentlichungsverlauf

• 2022 KS X ISO 6342-2022 Mikrographik – Lochkarten – Methode zur Messung der Dicke des Aufbaubereichs
• 0000 KS X ISO 6342-2007(2017)
• 2007 KS X ISO 6342:2007 Mikrographik – Lochkarten – Methode zur Messung der Dicke des Aufbaubereichs
• 0000 KS X ISO 6342:2004