TR5.4-03-2011
Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung Latch-Up-Empfindlichkeitsprüfung von integrierten CMOS/BiCMOS-Schaltkreisen Transiente Latch-up-Prüfung – Transiente Stimulation der Versorgung auf Komponentenebene

Standard-Nr.
TR5.4-03-2011
Erscheinungsdatum
2011
Organisation
ESD - ESD ASSOCIATION



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