TR5.4-03-2011
Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung Latch-Up-Empfindlichkeitsprüfung von integrierten CMOS/BiCMOS-Schaltkreisen Transiente Latch-up-Prüfung – Transiente Stimulation der Versorgung auf Komponentenebene

Standard-Nr.

TR5.4-03-2011

Erscheinungsdatum

2011

Organisation

ESD - ESD ASSOCIATION