KS E ISO 567-2002(2017)
Metallische und andere anorganische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Fizeau-Mehrstrahlinterferometrie-Methode

Standard-Nr.

KS E ISO 567-2002(2017)

Erscheinungsdatum

2002

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

KS E ISO 567:2022

Letzte Version

KS E ISO 567:2022

KS E ISO 567-2002(2017) Veröffentlichungsverlauf

• 2022 KS E ISO 567:2022 Koks – Bestimmung der Schüttdichte in einem kleinen Behälter
• 0000 KS E ISO 567-2002(2017)
• 2002 KS E ISO 567:2002 Koks – Bestimmung der Schüttdichte in einem kleinen Behälter