BS EN 62047-9:2011(2012)
Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente Teil 9: Wafer-zu-Wafer-Bondfestigkeitsmessung für MEMS
Start
BS EN 62047-9:2011(2012)
Standard-Nr.
BS EN 62047-9:2011(2012)
Erscheinungsdatum
1970
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Zustand
ersetzt werden
2013-01
ersetzt durch
BS EN 62047-9:2013
Letzte Version
BS EN 62047-9:2013
BS EN 62047-9:2011(2012) Veröffentlichungsverlauf
2013
BS EN 62047-9:2013
Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. Messung der Wafer-zu-Wafer-Bondfestigkeit für MEMS
2013
BS EN 62047-9:2011
Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. Messung der Wafer-zu-Wafer-Bondfestigkeit für MEMS
© 2024 Alle Rechte vorbehalten.