BS EN 62047-9:2011(2012)
Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente Teil 9: Wafer-zu-Wafer-Bondfestigkeitsmessung für MEMS

Standard-Nr.
BS EN 62047-9:2011(2012)
Erscheinungsdatum
1970
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Zustand
 2013-01
ersetzt durch
BS EN 62047-9:2013
Letzte Version
BS EN 62047-9:2013

BS EN 62047-9:2011(2012) Veröffentlichungsverlauf

  • 2013 BS EN 62047-9:2013 Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. Messung der Wafer-zu-Wafer-Bondfestigkeit für MEMS
  • 2013 BS EN 62047-9:2011 Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. Messung der Wafer-zu-Wafer-Bondfestigkeit für MEMS
Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente Teil 9: Wafer-zu-Wafer-Bondfestigkeitsmessung für MEMS



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