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BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)

Standard-Nr.

18/30319114 DC

Erscheinungsdatum

2018

Organisation

British Standards Institution (BSI)

Letzte Version

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