KS C 2150-2008(2018) Messmethode der Dielektrizitätskonstante und des dielektrischen Verlusts eines dielektrischen Dünnfilms im Hochfrequenzbereich (500 MHz–10 GHz)
2023KS C 2150-2023 Messmethode der Dielektrizitätskonstante und des dielektrischen Verlusts eines dielektrischen Dünnfilms im Hochfrequenzbereich (500 MHz–10 GHz)
0000 KS C 2150-2008(2018)
2008KS C 2150-2008 Messmethode der Dielektrizitätskonstante und des dielektrischen Verlusts eines dielektrischen Dünnfilms im Hochfrequenzbereich (500 MHz–10 GHz)