IEEE P1149.7/D8, April 2022
Von der IEEE genehmigter Standardentwurf für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität

Standard-Nr.

IEEE P1149.7/D8, April 2022

Erscheinungsdatum

2022

Organisation

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)