IEEE P1838_D3.00, September 2019
Von der IEEE genehmigter Standardentwurf für die Testzugriffsarchitektur für dreidimensionale gestapelte integrierte Schaltkreise

Standard-Nr.

IEEE P1838_D3.00, September 2019

Erscheinungsdatum

2019

Organisation

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)