KS E ISO 5418-1-2007(2017)
Metallische und andere anorganische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Fizeau-Mehrstrahlinterferometrie-Methode

Standard-Nr.

KS E ISO 5418-1-2007(2017)

Erscheinungsdatum

2007

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

KS E ISO 5418-1:2022

Letzte Version

KS E ISO 5418-1:2022

KS E ISO 5418-1-2007(2017) Veröffentlichungsverlauf

• 2022 KS E ISO 5418-1:2022 Eisenerze – Bestimmung von Kupfer – Teil 1: 2,2'-Bichinolyl-spektrophotometrische Methode
• 0000 KS E ISO 5418-1-2007(2017)
• 2007 KS E ISO 5418-1:2007 Eisenerze – Bestimmung von Kupfer – Teil 1:2,22' – Spektrophotometrische Biquinolyl-Methode