SP5.4-2004
Latch-up-Empfindlichkeitstest von integrierten CMOS/BiCMOS-Schaltkreisen. Transienter Latch-up-Test – transiente Stimulation der Versorgung auf Komponentenebene

Standard-Nr.

SP5.4-2004

Erscheinungsdatum

2004

Organisation

ESD - ESD ASSOCIATION