IEC 63003 Edition 1.0 2015-12 IEEE Std 1505.1
Internationaler IEC/IEEE-Standard für die gemeinsame Pin-Mapping-Konfiguration der Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505(TM)

Standard-Nr.

IEC 63003 Edition 1.0 2015-12 IEEE Std 1505.1

Erscheinungsdatum

2015

Organisation

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)