KS D ISO 13898-1-2002(2017)
Metallische und andere anorganische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Fizeau-Mehrstrahlinterferometrie-Methode

Standard-Nr.

KS D ISO 13898-1-2002(2017)

Erscheinungsdatum

2002

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden 2022-01

ersetzt durch

KS D ISO 13898-1-2022

Letzte Version

KS D ISO 13898-1-2022

KS D ISO 13898-1-2002(2017) Veröffentlichungsverlauf

• 2022 KS D ISO 13898-1-2022 Metallische und andere anorganische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Fizeau-Mehrstrahlinterferometrie-Methode
• 0000 KS D ISO 13898-1-2002(2017)
• 2002 KS D ISO 13898-1:2002 Stahl und Eisen? Bestimmung des Nickel-, Kupfer- und Kobaltgehalts – Atomemissionsspektrometrische Methode mit induktiv gekoppeltem Plasma – Teil 1: Allgemeine Anforderungen und Probenauflösung