KS D ISO 4158-2002(2017)
Metallische und andere anorganische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Fizeau-Mehrstrahlinterferometrie-Methode

Standard-Nr.

KS D ISO 4158-2002(2017)

Erscheinungsdatum

2002

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

KS D ISO 4158-2002(2022)

Letzte Version

KS D ISO 4158-2002(2022)

KS D ISO 4158-2002(2017) Veröffentlichungsverlauf

• 0000 KS D ISO 4158-2002(2022)
• 0000 KS D ISO 4158-2002(2017)
• 2002 KS D ISO 4158:2002 Ferrosilicium, Ferrosiliciumangan und Ferrosiliciumchrom – Bestimmung des Siliciumgehalts – Gravimetrische Methode