DIN EN 60749-5 E:2016-12
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
- Standard-Nr.
- DIN EN 60749-5 E:2016-12
- Erscheinungsdatum
- 1970
- Organisation
- /
- Zustand
- ersetzt durch
- DIN EN 60749-5:2018-01
- Letzte Version
- DIN EN 60749-5:2018-01
DIN EN 60749-5 E:2016-12 Veröffentlichungsverlauf
- 0000 DIN EN 60749-5:2018
- 2003 DIN EN 60749-5:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Dauertemperatur-Feuchtigkeits-Bias-Lebensdauerprüfung (IEC 60749-5:2003); Deutsche Fassung EN 60749-5:2003
- 0000 DIN EN 60749-5:2002
