KS X ISO 6342-2007(2017)
Mikrographik – Lochkarten – Methode zur Messung der Dicke des Aufbaubereichs

Standard-Nr.

KS X ISO 6342-2007(2017)

Erscheinungsdatum

2007

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden 2022-01

ersetzt durch

KS X ISO 6342-2022

Letzte Version

KS X ISO 6342-2022

KS X ISO 6342-2007(2017) Veröffentlichungsverlauf

• 2022 KS X ISO 6342-2022 Mikrographik – Lochkarten – Methode zur Messung der Dicke des Aufbaubereichs
• 0000 KS X ISO 6342-2007(2017)
• 2007 KS X ISO 6342:2007 Mikrographik – Lochkarten – Methode zur Messung der Dicke des Aufbaubereichs
• 0000 KS X ISO 6342:2004