KS C IEC PAS 62164-2003(2008)
Richtlinien für GaAs-MMIC- und FET-Lebensdauertests

Standard-Nr.

KS C IEC PAS 62164-2003(2008)

Erscheinungsdatum

2003

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden 2013-01

ersetzt durch

KS C IEC PAS 62164-2013

Letzte Version

KS C IEC PAS 62164-2013

KS C IEC PAS 62164-2003(2008) Veröffentlichungsverlauf

• 2013 KS C IEC PAS 62164-2013 Richtlinien für GaAs-MMIC- und FET-Lebensdauertests
• 0000 KS C IEC PAS 62164-2003(2008)
• 2003 KS C IEC PAS 62164:2003 Richtlinien für GaAs-MMIC- und FET-Lebensdauertests