IEC 61788-7:2020 RLV
Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Hochtemperatur-Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen

Standard-Nr.

IEC 61788-7:2020 RLV

Erscheinungsdatum

2020

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 61788-7:2020 RLV

IEC 61788-7:2020 RLV Veröffentlichungsverlauf

• 0000 IEC 61788-7:2020 RLV
• 2006 IEC 61788-7:2006 Supraleitung – Teil 7: Elektronische Charakteristikmessungen – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
• 2002 IEC 61788-7:2002 Supraleitung - Teil 7: Elektronische Kennlinienmessungen; Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen