KS C IEC PAS 62162-2002(2017)
Feldinduziertes Modelltestverfahren für elektrostatische Entladungen mikroelektronischer Komponenten

Standard-Nr.

KS C IEC PAS 62162-2002(2017)

Erscheinungsdatum

2002

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden 2022-01

ersetzt durch

KS C IEC PAS 62162-2022

Letzte Version

KS C IEC PAS 62162-2022

KS C IEC PAS 62162-2002(2017) Veröffentlichungsverlauf

• 2022 KS C IEC PAS 62162-2022 Feldinduziertes Modelltestverfahren für elektrostatische Entladungen mikroelektronischer Komponenten
• 0000 KS C IEC PAS 62162-2002(2017)
• 2002 KS C IEC PAS 62162:2002 Feldinduziertes Modelltestverfahren für elektrostatische Entladungen mikroelektronischer Komponenten