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BS ISO 23170. Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Zerstörungsfreie Tiefenprofilierung nanoskaliger Schwermetalloxid-Dünnfilme auf Si-Substraten mit mittelenergetischer Ionenstreuung

Standard-Nr.

21/30423416 DC

Erscheinungsdatum

2021

Organisation

British Standards Institution (BSI)

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