IEEE P1149.7/D6, July 2020
IEEE-Standardentwurf für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität

Standard-Nr.

IEEE P1149.7/D6, July 2020

Erscheinungsdatum

2020

Organisation

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)