JEDEC JESD22-B112C-2023
Messung des Gehäuseverzugs oberflächenmontierter integrierter Schaltkreise bei erhöhter Temperatur
Start
JEDEC JESD22-B112C-2023
Standard-Nr.
JEDEC JESD22-B112C-2023
Erscheinungsdatum
2023
Organisation
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