YD/T 3037.1-2023 Testverfahren für Eigenschaften der Massenspeicherschnittstelle zwischen Universal Integrated Circuit Card (UICC) und Terminal – Teil 1: Terminal (Englische Version)
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Anwendungsbereich
Dieses Dokument gilt für die Entwicklung und Produktion von Terminalschnittstellen, die Speicherschnittstellen mit großer Kapazität unterstützen.
YD/T 3037.1-2023 Veröffentlichungsverlauf
2023YD/T 3037.1-2023 Testverfahren für Eigenschaften der Massenspeicherschnittstelle zwischen Universal Integrated Circuit Card (UICC) und Terminal – Teil 1: Terminal